本發明涉及輻射探測技術領域,尤其是涉及一種輻射探測裝置、伽馬中子測量儀及圖像定位系統,該輻射探測裝置,包括鋰玻璃、位于鋰玻璃上游的閃爍晶體以及位于上游的慢化體;輻射探測裝置具有第一輻射路徑、第二輻射路徑和第三輻射路徑;在第一輻射路徑的情形下,伽馬射線依次穿過閃爍晶體和鋰玻璃,產生第一類熒光光子;在第二輻射路徑的情形下,伽馬射線輻射至鋰玻璃,產生第二類熒光光子;在第三輻射路徑的情形下,中子射線依次經慢化體和鋰玻璃,產生第三類熒光光子。本發明提供的技術方案可同時實現γ輻射探測和中子探測,極大地節省了空間,有助于設備的小型化,同時降低了研發成本。
聲明:
“輻射探測裝置、伽馬中子測量儀及圖像定位系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)