本發明公開了120m超深覆蓋層鉆取275mm級大直徑原狀樣的方法,屬于地質勘探領域,用以解決傳統普通單管鉆具或者SDB鉆具均不能有效實現在深度120m的超深覆蓋層中采取直徑為275mm級別的原狀樣的問題。本發明通過分階段進行鉆進,并配套本發明所改進后的相應尺寸規格的SDD原狀樣取樣鉆具,實現了在120m超深覆蓋層中鉆取275mm級大直徑原狀樣的目的,實現了在120m超深覆蓋層中鉆取275mm級大直徑原狀樣技術從無到有的突破。
聲明:
“120m超深覆蓋層鉆取275mm級大直徑原狀樣的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)