本發明提供一種薄儲層厚度預測方法及裝置,其中方法包括:將工區范圍內多個第一薄儲層的地層反射系數序列與地震子波進行褶積,以獲取地質基函數空間,將多個第二薄儲層的地震資料基于地質基函數空間展開,以獲取多個展開系數,根據展開系數對第二薄儲層的厚度進行預測,以獲取最大概率厚度,判斷最大概率厚度與對應的第二薄儲層的實際厚度之差是否在預設閾值內,若是,對所述第二薄儲層的厚度預測有效;判斷預測有效的概率是否滿足預設精度,若滿足,利用地質基函數空間對第三薄儲層的厚度進行預測。本發明的方法由時間域地震記錄直接估測薄儲層厚度,該方法操作便捷,適用性強,對薄砂巖具有較高的預測精度。
聲明:
“薄儲層厚度預測方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)