本發明公開了一種碳/碳化硅陶瓷基復合材料密度標定方法。首先利用CVI工藝制備C/SIC復合材料分階段逐步致密的特點,在C/SIC復合材料制備的各致密階段獲取隨爐梯度密度標樣;然后采用工業CT技術一次同步檢測梯度密度標樣和被標定C/SIC復合材料,獲得CT圖像;建立梯度密度標樣CT值與其密度之間的函數標定關系;最后利用函數標定關系來標定同一CT掃描截面上C/SIC復合材料的內部密度分布。由于采用一次同步完成標樣和被標定C/SIC復合材料的CT截面掃描,獲得的復合材料內部密度分布信息準確,檢測速度快,精度高,成本低。
聲明:
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