本發明屬于納米材料類超導性能及電學性能測量領域。一種安裝在掃描探針顯微鏡中的原位微型單元大電流測量裝置,包括樣品平臺、電路部分,其特征在于它還包括一個能放入掃描探針顯微鏡中的原位電學測量平臺,其上設置一個支撐部分為絕緣襯底(4)的探針夾持器(3),探針夾持器(3)杠桿式安裝在絕緣襯底(4)上,并通過連接電纜(2)外接可控電壓源。本發明利用掃描探針顯微鏡原位實時記錄待測微晶體功能材料在大功率電場作用下的電學性質以及電場誘發的微晶體結構狀態變化,將微型單元的電學性質與微觀結構變化直接對應起來,從納米尺度上揭示微晶體功能材料的類超導大功率電學性質。
聲明:
“安裝在掃描探針顯微鏡中的原位微型單元大電流測量裝置及電學測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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