本發明公開了一種X射線熒光法測定鋅層重量的方法,涉及冶金材料分析技術領域,為解決X熒光光譜儀測定鍍鋅板鋅層重量檢測范圍較大時檢測數據可信度不高,需要人工二次檢測的問題;本發明包括以下步驟:制取不同含量標準樣品,采用重量法準確測定標準樣品的鋅層重量;用標準樣品及重量法的測定結果分別在A廠家以及B廠家制造的X射線熒光儀上分別建立一次校準曲線測量方法和二次校準曲線測量方法;分別用兩臺X射線熒光儀測定盲樣,用重量法準確測定盲樣,并對比結果;本發明解決了一次校準曲線檢測方法中的兩個弊端,提高了X熒光光譜儀對鍍鋅板鋅層重量檢測范圍較大時檢測數據的可信度,減少了檢測人員用重量法二次檢測的工作量。
聲明:
“X射線熒光法測定鋅層重量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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