本發明公開了高爐渣、轉爐渣和真空精煉渣X射線熒光分析漂移校正樣品及其制備方法,屬于冶金材料分析技術領域。該制備方法包括將爐渣樣品粉粹研磨得顆粒樣品,還包括將顆粒樣品置于高溫爐中,緩慢升溫至1250±10℃,熔融10~20min,得到熔體,再將熔體倒入預先加熱至200~400℃的模具中,自然冷卻至室溫,得到玻璃狀樣品。本發明設計的制樣方法簡單可行,相比于傳統的粉末壓片法,能夠在較大程度上節省人力及物力,且制備的漂移校正樣品質地均勻,外觀完整,穩定性高,使用壽命達半年以上,顯著提高了高爐渣、真空渣及真空精煉渣的測量過程穩定性,大大降低了因樣品變質引起的分析波動,提高產品測定結果的準確性。
聲明:
“高爐渣、轉爐渣和真空精煉渣X射線熒光分析漂移校正樣品及其制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)