本發明涉及一種使用光纖,優選地為涂覆金屬的光纖,測量冶金容器中的溫度的浸沒裝置。根據本發明的浸沒裝置包括進給通道和進給構件,用于進給光纖至一次性導管以及進給一次性導管連同光纖至熔體。浸沒裝置包括用于監測光纖一端相對于導管一端的位置的控制構件。已發現所述相對位置決定了溫度測量的質量。因此,監測所述相對位置使得確定溫度測量的質量、并因此改進溫度測量變得有可能。
聲明:
“用于測量熔體溫度的光纖的浸沒裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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