本發明提供一種用于微波等離子體炬光譜儀的固體樣品直接進樣裝置,主要由脈沖激光器系統、成像定位系統、樣品處理系統、位置調節系統和氣路轉接系統構成。本發明裝置利用可實現包括生物樣品、金屬材料等固體樣品的直接取樣分析,同時適用于規則樣品表面和非規則樣品表面的取樣,直接激光燒蝕取樣可將所有元素原子化,可用作微波等離子體炬光譜儀的全元素分析??蓱糜谀壳暗囊苯?、醫學檢驗、生命科學、農學、食品安全檢測、林學、環境監測、生物檢定、法醫鑒定等諸多領域。本發明裝置設計合理,可用于固體樣品的直接處理進樣,減少了樣品前處理的步驟,對樣品的材質狀態要求較低,方便了用戶需求。
聲明:
“用于微波等離子體炬光譜儀的固體樣品直接進樣裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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