本發明適用于固體樣品元素含量分析技術領域,提供了一種用于微波等離子體炬發射光譜的固體進樣分析系統,包括激光器,用于輸出預定波長的激光;光學擴束裝置,用于將激光擴散處理;光路調節裝置,用于將擴散處理后的激光光束按預定角度反射和/或將可見光透射處理;光學聚焦裝置,用于將激光光束聚焦處理后傳送到樣品室;樣品室,用于放置樣品,并接收聚焦后的激光對樣品進行燒蝕處理;成像處理裝置,用于將所述光路調節裝置透射處理后的可見光成像處理。本發明具有無需樣品前處理,固體樣品直接分析,分析速度快,分析靈敏度高等特點,可用于冶金、地質、硅酸鹽等工業領域的固體或粉末樣品快速元素含量分析。
聲明:
“用于微波等離子體炬發射光譜的固體進樣分析系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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