本發明公開一種亞銅離子選擇電極。所述亞銅離子選擇電極為硫化亞銅與硫化銀組成選擇性敏感膜的混晶膜電極;所述硫化亞銅的質量占選擇性敏感膜總質量的40~60%,所述硫化銀的質量占選擇性敏感膜總質量的60~40%。所述亞銅離子選擇電極能夠快速準確地測量亞銅離子的活度,所需時間僅僅數分鐘,其相對誤差≤10%,并且其具有1×10-6~1×10-2mol/L檢測限,能很好地滿足實際的應用需要。
聲明:
“亞銅離子選擇電極及其測量亞銅離子的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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