本發明公開了一種計及芯片影響的設備可靠性確定方法及系統,包括:基于歷史數據進行統計分析,確定不同階段的第一設備失效率;基于不同階段的第一設備失效率,確定不同階段的第一板卡失效率;基于所述第一設備失效率、第一板卡失效率和第一芯片失效率確定協變量函數;基于目標設備廠家采用的芯片,確定第二芯片失效率;基于目標設備廠家的板卡設計工藝和制造工藝能力,確定第二板卡失效率;基于所述第二芯片失效率、第二板卡失效率和協商變量函數確定目標設備廠家的第二設備失效率,以基于第二設備失效率進行設備可靠性評估。本發明能夠為國產芯片的二次設備可靠性提供量化評估依據。
聲明:
“計及芯片影響的設備可靠性確定方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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