本發明公開了一種基于Weibull分布的MOS晶體管可靠性統計模型的建模方法,測試MOS晶體管的失效時間數據,經統計分析獲得累積分布函數估計值和概率密度函數估計值,繪制累積分布函數曲線和概率密度函數曲線,以其為擬合標準,獲得Weibull分布模型下的概率密度函數擬合曲線和累積分布函數擬合曲線,判斷函數擬合曲線和繪制得到的函數曲線的相對誤差是否在預定值之內,記錄Weibull分布模型中的模型參數,得到失效時間和模型參數的查表文件的模型庫,得到Weibull分布下MOS晶體管的可靠性統計模型。
聲明:
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