本實用新型提供了IGBT壽命測試裝置,其包括:一個選擇模塊,其連接于復數個IGBT模塊,用于選通復數個IGBT模塊的其中一個或多個進行測試;一個采樣模塊,其用于采集所述選擇模塊選取的一個或多個IGBT模塊的發射極集電極電壓;一個調理模塊,其用于接收來自所述采樣模塊的一個或多個IGBT模塊的發射極集電極電壓,并將發射極集電極電壓放大;一個比較模塊,其中預存有一閾值電壓,所述比較模塊用于接收所述調理模塊放大后的發射極集電極電壓與所述閾值電壓進行比較,當所述放大后的發射極集電極電壓小于所述閾值電壓時,則判斷該發射極集電極電壓對應的IGBT模塊失效并觸發報警信號。本實用新型造價低、可靠性高,其算法簡單可靠有效,并具有更高的響應速度。
聲明:
“IGBT壽命測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)