合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 減少半導體芯片靜電測試過程中靜電摩擦的裝置

減少半導體芯片靜電測試過程中靜電摩擦的裝置

1126   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:34
本實用新型公開一種減少半導體芯片靜電測試過程中靜電摩擦的裝置,包括連接在一起的塊體一和塊體二,塊體一上開有圓弧形的載帶槽,塊體二上設有與塊體二滑動連接的壓板,壓板可滑動至載帶槽的上方,且壓板朝向載帶槽的面為與載帶槽形狀相同的圓弧形,載帶槽上開有可使頂針通過將半導體芯片頂出的頂針孔。本實用新型可以減少半導體芯片靜電測試過程中的靜電摩擦,防止半導體芯片失效。
登錄解鎖全文
聲明:
“減少半導體芯片靜電測試過程中靜電摩擦的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX