本實用新型涉及一種防傾斜的集成電路FT測試裝置,包含散熱座、下壓板、測試部件和彈簧;測試部件的下部為測試頭,測試部件的上部為導向柱,下壓板具有與測試部件配合的限位結構,散熱座中具有伸縮空間,測試部件的測試頭伸出至下壓板的下側,導向柱進入散熱座的伸縮空間;散熱座的伸縮空間的頂部具有容納槽,導向柱的上端與容納槽配合,散熱座的伸縮空間的頂部設置有導向環;彈簧套設在導向柱上,彈簧的上端嵌入導向環中;本方案優化了測試裝置的結構,使彈簧上端在導向環的作用下固定,保證pusher和測試插槽位置接觸良好,可以有效避免由于接觸不好導致的芯片測試失效,避免造成資源浪費,并提高芯片良品率。
聲明:
“防傾斜的集成電路FT測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)