本發明公開了一種對探針卡在測試過程中防止燒針的方法,每當探針卡移動到一個或一組新的被測芯片上時,連接在所有被測芯片上的所有測試通道,包括電源電壓均設定為低電平,并且打開電源上的去耦電容開關,使之前累積在所有測試通道上的電荷泄放;當一個或一組新的被測芯片在測試程序的某個測試項目上發生了失效時,需要馬上將其踢除,亦即所有的測試通道均下電。本發明能提高探針卡的使用壽命。
聲明:
“對探針卡在測試過程中防止燒針的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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