本發明涉及一種改進的隨機存取內存自檢方法,包括以下步驟:步驟S1,將待測內存劃分成多個不疊加的內存段;步驟S2,每段內存采用Abraham算法進行自檢;步驟S3,預先計算好待測內存中各段測試數據異或結果的CRC值;步驟S4,開始內存測試之前,將所有測試數據依次填入待測內存;步驟S5,每段內存測試之后,計算一次當前各段內存中數據異或結果的CRC值;步驟S6,在線計算的CRC值與預算計算好的CRC值做比較,若相同則認為本段內存與其他內存無耦合,繼續進行下一段內存的測試,重復步驟S5,若不同則認為發現耦合,算法終止。與現有技術相比,本發明具有發現RAM分段測試后各段內存之間耦合失效的情況并提高RAM自檢執行效率等優點。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)