本發明提供一種存儲器自動檢錯和容錯電路,包括自激勵產生測試單元、錯誤地址判斷單元、失效地址映射存儲單元、地址譯碼選擇單元和備份存儲單元。自激勵產生測試單元在芯片上電時自動測試主存儲單元產生數據結果,錯誤地址判斷單元根據數據結果確定主存儲單元中的失效地址,失效地址映射存儲單元存儲失效地址及失效地址和備份存儲單元地址的映射關系。當發起訪問請求時地址譯碼選擇單元判斷訪問地址與失效地址映射存儲單元存儲的失效地址一致時確定失效地址和備份存儲單元地址的映射關系,把訪問指向備份存儲單元中對應失效地址的備份存儲地址。本發明還提供一種相應的方法,利用本發明實現芯片對存儲器損壞的自檢測和自動容錯機制。
聲明:
“存儲器自動檢錯和容錯電路及控制方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)