本發明提供一種測試結構及測試方法,測試結構包括:多條射頻鏈路,各所述射頻鏈路均包括多個焊點以及位于相鄰焊點之間與焊點相連接的傳輸線;不同所述射頻鏈路中至少一處對應的所述傳輸線的長度不同。對測試結構中的各射頻鏈路進行阻抗測試,以得到各射頻鏈路的阻抗?時間曲線,根據阻抗?時間曲線和各射頻鏈路的結構可以識別出長度不同的傳輸線,從而識別出各射頻鏈路中的焊點和傳輸線,如果此時有射頻鏈路中存在失效點,由于焊點和傳輸線已經識別出來,就可以實現對失效點的精確定位,準確分析器件失效位置,滿足新型射頻器件研制以及應用可靠性研究需求。
聲明:
“測試結構和測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)