合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> IGBT模塊疲勞分析處理方法及半導體器件處理方法

IGBT模塊疲勞分析處理方法及半導體器件處理方法

739   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:58
本申請涉及IGBT模塊疲勞分析處理方法,包括步驟:建立IGBT模塊的有限元模型;電?熱?結構耦合計算;繪制應變疲勞曲線;計算IGBT模塊的各單元的疲勞損傷值;確定下一次功率循環的有限元模型;建立IGBT模塊的狀態評估模型。這樣,巧妙地設計了IGBT模塊的有限元模型并據此進行累積損傷值的計算及分析,從而能夠準確地得出IGBT模塊疲勞失效機理,解決了傳統數值分析方法無法模擬疲勞裂紋擴展期間物理特性的弊端,以及克服試驗法花費大、難以深入研究模塊全壽命疲勞特性的問題,并且全面考慮IGBT模塊疲勞失效的裂紋萌生期和裂紋擴展期,實現了對IGBT模塊全壽命疲勞的準確模擬分析。
登錄解鎖全文
聲明:
“IGBT模塊疲勞分析處理方法及半導體器件處理方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX