測試數據報告和分析方法及系統

本發(fā)明公開(kāi)了使用數據陣列從陣列結構的多個(gè)測試來(lái)報告和/或分析測試數據。一種方法包括獲取所述測試數據并在數據陣列中報告所述測試數據,所述數據陣列包括至少兩個(gè)表示不同測試的部分。根據轉換表來(lái)組織存儲在所述數據陣列中的數據,所述轉換表描述了所述數據陣列中要測試的數據的位置和要分析的數據的準則。還可以生成大量其他數據布置,例如,列出預定最大數量的失效點(diǎn)的坐標文件或芯片做出的包括失效點(diǎn)的芯片報告。所述數據陣列以更易于生成和存儲的形式報告所有測試數據,并且其可以被轉換成圖像。本發(fā)明還公開(kāi)了用于使用所述數據陣列來(lái)分析數據的數據分析方法。