本發明涉及電子器件輻射效應領域,特別是涉及一種大氣中子誘發的FPGA器件失效率檢測方法和系統,通過對FPGA陣列進行大氣中子單粒子效應檢測,獲取FPGA陣列的大氣中子單粒子效應檢測的測量數據;獲取所述FPGA陣列中FPGA器件的數量;根據所述測量數據以及所述FPGA器件的數量獲取FPGA器件失效率。在此方案中,所述測量數據為對FPGA進行大氣中子單粒子效應檢測后獲得的數據,所述測量數據能夠提高大氣中子單粒子效應下的獲取的FPGA器件失效率的準確度,從而實現FPGA器件大氣中子單粒子效應敏感性的準確定量評價,解決我國目前FPGA器件大氣中子單粒子效應評價方法缺失的難題。
聲明:
“大氣中子誘發的FPGA器件失效率檢測方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)