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CPI測試結構及基于該結構的失效分析方法

880   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:29
本發明公開了一種CPI測試結構,包括:基底,其中形成有層間介電層;鈍化層;設置在所述基底表面;頂層金屬層,設置在所述鈍化層下方;層間金屬層,其包括貫穿所述層間介電層的層間互連結構,所述層間互連結構設置有首端和末端,所述首端和末端分別與頂層金屬層電連接;所述層間互連結構還包括多個凸出端部,所述凸出端部延伸至頂層金屬層并與頂層金屬層電連接。本發明可節省失效分析過程中剝掉更多金屬及介電層次所花的時間,提高失效分析效率。本發明還涉及一種基于該CPI測試結構的失效分析方法。
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