本實用新型公開了一種高探測EOS異常失效分析系統,包括AC電源、電源EMI濾波器、示波器,所述電源EMI濾波器通過測試線與AC電源連接,所述電源EMI濾波器與示波器連接,所述電源EMI濾波器與示波器之間設有歐姆電阻線,使用高探測EOS異常的失效分析系統可以對通電后的生產整個流程中的ESD異?,F象進行分析,查找出生產狀態時的異常點,更能找到根本原因并實現預防解決問題。
聲明:
“高探測EOS異常失效分析系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)