本發明公開了一種電子產品的可靠性失效分析檢測方法,包括以下步驟:S1、在電子產品元件上安裝溫度、電流和電壓監測裝置;S2、將電子產品元件額定范圍輸入分析檢測單元并作為第一數據;S3、溫度、電流和電壓監測裝置對電子產品元件實時數據檢測并上傳;S4、上述數據在分析檢測單元中與額定范圍值的最大值進行比較計算,超出額定值關閉電子產品元件;S5、將失效數據通過失效數據顯示單元進行顯示。本發明分析檢測方法簡單明了,通過數次檢測即可得出影響電子產品元件可靠性的主要原因,并針對性的進行改進,提高電子產品元件使用的可靠性,延長電子產品元件使用壽命,適合進行推廣。
聲明:
“電子產品的可靠性失效分析檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)