本發明涉及一種電容失效分析檢測方法,包括如下步驟:外觀檢查;內視檢測,通過探傷檢測設備對失效電容進行失效點定位,并確定失效點位置;初步確認失效原因,根據失效點位置列出可能的失效原因;模擬試驗,根據失效原因對良品電容進行針對性的通電模擬,驗證可能的失效原因,并將良品電容在失效損毀后的失效點情況與失效電容的失效點位置進行比對,確定失效原因;金相檢測,將失效電容制成失效點位置的金相切片并在金相顯微鏡下觀察確認,再使用掃描電鏡和能譜分析儀對金相切片進行掃面分析,驗證確定電容失效損毀原因并給出分析結論。本發明能夠快速、高效地確認電容失效的根本原因,通過電容失效分析實現對于電子系統的工作可靠性的提高。
聲明:
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