本發明公開了一種基于光子計數的X射線相襯成像系統,同時還公開了該系統實現X射線相襯成像的方法及其關鍵設備。在該系統中,X射線源向掃描平臺上的樣品發射X射線,X射線在穿透樣品時,產生攜帶空間位置中材料特征信息的光子,光子計數探測器對成像平面的光子進行計數,獲得入射光子的投影數據和能量數據,并傳輸至三維重建系統;三維重建系統根據投影數據和能量數據重建樣品內部的三維結構和物質成分類別,對樣品的組成部分進行數字染色,從而對樣品的物質成分進行識別。本發明通過光子計數技術、相襯成像技術和三維重建技術對弱吸收物質進行無損傷檢測,可以獲得具有能量鑒別能力、微米級或納米級空間分辨能力的數字蠟塊。
聲明:
“基于光子計數的X射線相襯成像系統、方法及其設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)