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基于S變換的結構光三維面形垂直測量方法

986   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:37
本發明公開了一種基于S變換的結構光三維面形垂直測量方法,其進行一次掃描測量即可同時利用S變換取脊和S變換濾波兩種方法獲得各條紋圖調制度值的分布從而實現三維面形的測量。本發明所述的S變換是一種無損、可逆的時頻分析方法,與小波變換相比,S變換取脊方法不僅具有多分辨率的特點,其變換系數還與該信號的傅里葉頻譜有著直接的聯系,可獲得比小波變換更為精確的調制度值;與傅里葉變換相比,S變換濾波方法采用高斯窗函數且窗寬與頻率的倒數成正比,改善了窗寬固定的缺陷,具有良好的時頻分析特性,能更完整地保留被測物體的細節部分。通過本發明解決了現有技術中無法精確地重建被測物體的三維面形的問題,提高了測量精度。
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“基于S變換的結構光三維面形垂直測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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