本發明涉及一種結合激光散斑和Kmeans聚類算法的蘋果無損檢測方法,包括:1、采用激光散斑測量方法,獲取N個蘋果的散斑位移,計算N個蘋果的共振頻率;2、采用標準的Kmeans聚類算法,對N個蘋果的共振頻率進行中心聚類計算;3、獲取待檢測蘋果的共振頻率,根據步驟2的中心聚類結果判斷待檢測蘋果的缺陷類別。本發明具有較強的泛化能力,基于計算機視覺的方法只能對預先標注的缺陷類型進行檢測,而本發明對任何能引起蘋果共振頻率變化的缺陷類型都適用。通過選擇高階共振頻率并結合降噪技術,使得本發明提出的新方法具有很強的抵抗噪聲能力,適用于環境不可控的各種實際工況,這是有別于傳統計算機視覺方法的突出優點。
聲明:
“結合激光散斑和Kmeans聚類算法的蘋果無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)