一種發光二極管外延片的檢測方法,屬檢測儀器領域。本發明是在發光二極管外延片的表面安置正負兩個電極,將一個高壓恒流源接在正負兩極,使發光二極管外延片中的p型層、n型層組成的反向二極管被擊穿。使整個電路導通,引發發光二極管外延片的發光層發光,從而達到檢測的目的。這種測量方法直接、無損、便捷,相對于光致熒光而言還可以得到正向導通電壓、反向漏電流等對于LED外延片而言非常重要的電學參數。
聲明:
“發光二極管外延片電致發光無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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