本發明公開了一種低溫分子束產生和速度的測量裝置及方法,其裝置包括:4K低溫分子束源產生器、靜電四極直導引、高壓直流電源、高壓開關、DIO64數據采集卡時序控制裝置、LabVIEW控制模塊及四極質譜儀信號測量器。其方法是通過4K溫度氦(He)原子與樣品分子進行碰撞得到冷分子束,經過與4K?He原子充分的碰撞后得到低平動和內態溫度的分子束源。四極質譜儀探測到所有化學性質穩定的分子,配合高壓開關和靜電四極直導引,得到所有可導引的極性分子的速度分布信息。本發明適用于測量缺乏分子光譜數據信息的分子束速度分布。
聲明:
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