本發明涉及掃描探針成像技術領域,公開了一種基于單量子點的近場探針及探針體系,以及基于該探針體系的檢測裝置及方法。單量子點掃描近場光學顯微探針,是將單量子點通過靜電力或化學粘附劑裝載到介質針尖用作探針,介質針尖為錐形光纖或者原子力顯微鏡探針。本發明的近場探針體系能有效地克服傳統掃描近場光學探針扭曲樣品光學性質、信噪比低、重復性差等缺陷;單量子點近場探針成像分辨率能達到與單量子點尺寸同一量級,一般優于10納米空間分辨率。檢測方法具有基于熒光強度成像和熒光壽命成像,可傳感樣品形貌、材料成分、光學近場分布等多維度的物理量信息。
聲明:
“單量子點掃描近場光學顯微探針及體系、檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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