本發明涉及電化學分析測試技術領域,具體涉及一種通過溶膠法印跡天冬氨酸光學異構體(如L-Asp)、銅離子和N-芐氧羰基(CBZ)-L-天冬氨酸(L-Asp)三元絡合物的方法,將該溶膠修飾于電極,通過在電極上構筑具有L-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp空間結構,由于N-CBZ-L-Asp上苯環與D-Asp上羧基的空間位阻,在水溶液中L-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp三元絡合物的穩定性大于D-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp三元絡合物,印跡電極在溶液中對L-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp三元絡合物的吸附量遠大于對D-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp,進而導致印跡電極中銅離子的濃度不同,以銅離子為探針,通過銅離子的還原電流的測量,實現對天冬氨酸光學異構體的選擇性識別。
聲明:
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