本發明公開了一種保留時間鎖定-氣相色譜-四極桿質譜-選擇性離子掃描進行化學輪廓分析的方法,首先采用氣相色譜-質譜全掃描方法分析質量控制樣品,采用質譜自動去卷積和峰識別系統對獲得的全掃描信息進行質譜去卷積和峰識別,從AMDIS的結果文件中提取識別的化合物所對應的色譜保留時間信息,并根據該信息對不同保留時間的色譜峰進行分組;然后從原始數據文件中提取質譜信息,進行特征離子選定。建立保留時間鎖定的GC-MS方法并對待分析的所有樣品在該方法下進行選擇離子檢測。本發明使得采用氣相色譜-質譜得到的化學輪廓分析數據的可靠性、有效性和可操作性得到提高。本方法也可推廣到以液相色譜-質譜為基礎的化學輪廓分析。
聲明:
“基于保留時間鎖定-氣相色譜-四極桿質譜選擇性離子掃描的化學輪廓分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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