本發明適用于電路測試領域,提供了一種壓敏電阻的測試方法,所述方法包括下述步驟:在被測壓敏電阻的兩端加載高頻率交流電,所述交流電的電壓低于被測壓敏電阻的標稱額定電壓;在與被測壓敏電阻相連的旁路元件的高點端接入隔離所述旁路元件的隔離電路;計算被測壓敏電阻的電容值,將被測壓敏電阻的電容值與設定的閾值范圍進行比較,判斷被測壓敏電阻是否為良品。通過本發明可以大大提高壓敏電阻電性能檢測的準確性和穩定性,能夠有效地檢查出FPC上搭載的壓敏電阻的各項電性能不良,實現完全的電性能檢查。
聲明:
“一種壓敏電阻的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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