一種能夠對離子的質量數加以顯示、控制和 準確鎖定的裝置。其鎖定精度在1-75a·m·u 范圍內為±0.2a·m·u:在75-122a·m·u 范圍內為±0.3a·m·u,從而能作到雙電荷、 三電荷離子的注入鎖定。將它安裝在離子注入機 上,能夠保證離子注入時摻雜的純度、精密度和 重復精度,有效地提高了集成電路芯片的成品率。 該裝置還可用于需要對離子質量數進行監控和鎖 定的冶金、金屬加工以及超導研究等方面。
聲明:
“離子質量數監控及鎖定裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)