一種由軟件控制的計算機裝置和/或由專用硬件所實施的方法被設計為探測冶金容器(1)中的導電目標材料(M),例如熔化金屬或半導體材料。在該方法中,在該導電目標材料(M)和一個傳感器(4)之間的相對位移期間從插入到該目標材料(M)的該傳感器(4)獲取一個測量信號,該測量信號表明在該傳感器(4)附近的電導率。生成該測量信號以便表示在該傳感器(4)周圍一個電磁場中的瞬間變化,該電磁場通過操作該傳感器(4)中的至少一個線圈(82;92)被創造?;谠摐y量信號,生成一個信號特征曲線以便表明該電導率作為該相對移動的函數。該方法使得能夠在任何詳細程度上在該容器(1)中探測該目標材料(M)的內部分布??梢苑治鲈撔盘柼卣髑€以便提供關于通過例如物質成分、熔化程度、混合程度來區分的區域/層(S,M1,M2)的信息。
聲明:
“在冶金容器中的測量” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)