本發明公開了一種巖石樣品微區圈定系統。本發明包括:偏光顯微鏡、熒光顯微鏡、陰極發光顯微鏡、亮度刺眼的手電筒,以及油性筆、圖像處理系統、顯微鏡載玻片。本發明專用于對巖石樣品制樣并在微觀條件下對目的礦物進行準確圈定,排除手工和肉眼誤差,使得測試結果更加精確,且操作簡單,對設備要求低,從而在一定程度上克服了國內外目前對碎屑巖膠結物測試手段局限性的問題。同時該系統制作的巖石樣品薄片具有便攜的優勢,可以充分利用多個實驗室的儀器設備對樣品開展測試分析,不僅降低了人員和時間成本,而且提高了實驗測試精度。
聲明:
“巖石樣品微區圈定系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)