溫度測試裝置及芯片測試分選機

權利要求書(shū)： 1.一種溫度測試裝置，其特征在于，包括：用于固定吸嘴的吸嘴固定機構，所述吸嘴的端部露出所述吸嘴固定機構的表面設置； 和對應所述吸嘴設置的測試組件，其包括相連接的溫度傳感機構和彈性件，所述彈性件能夠驅動(dòng)所述溫度傳感機構相抵于所述吸嘴的端部。 2.根據權利要求1所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述溫度傳感機構上設有接觸平面，所述吸嘴的端部設有與所述接觸平面相對應的端面，所述接觸平面與所述吸嘴相抵。 3.根據權利要求2所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述溫度傳感機構包括氧片式熱電偶和與所述氧片式熱電偶電連接的K型熱電偶線(xiàn)； 所述接觸平面設于所述氧片式熱電偶上靠近所述吸嘴的端部一側，所述K型熱電偶線(xiàn)用于與外接設備相連。 4.根據權利要求2所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述接觸平面覆蓋接觸于所述端面上。 5.根據權利要求2所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述彈性件為縱向伸縮的彈簧件，所述彈簧件設置于所述溫度傳感機構上遠離所述接觸平面的一側。 6.根據權利要求1或5所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述彈性件與所述溫度傳感機構之間連接有導向件，所述導向件滑動(dòng)設置于所述測試組件的導向槽中。 7.根據權利要求1?5任一項所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述吸嘴固定機構集成固定有多個(gè)所述吸嘴，各所述吸嘴間隔設置； 所述測試組件包括多組分別與各所述吸嘴一一對應設置的所述溫度傳感機構和所述彈性件。 8.根據權利要求7所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述吸嘴固定機構和所述測試組件上下相對設置； 所述吸嘴固定機構包括吸嘴固定塊，所述吸嘴固定塊設有多個(gè)用于固定安裝所述吸嘴的吸嘴固定孔位，所述吸嘴固定孔位的開(kāi)口朝下設置； 所述測試組件包括測試固定塊，所述測試固定塊對應多個(gè)所述吸嘴固定孔位分別設有多個(gè)開(kāi)口朝上的導向槽，分別用于固定各組所述溫度傳感機構和所述彈性件。 9.根據權利要求8所述的溫度測試裝置，其特征在于，所述吸嘴固定塊的底面設有固定螺栓，對應的，所述測試固定塊的頂面設有向上突出設置的安裝塊，所述安裝塊上設有螺栓孔位； 所述吸嘴固定孔位至少部分突出于所述測試固定塊的底面設置，其突出高度大于或等于所述安裝塊的突出高度。 10.一種芯片測試分選機，其特征在于，包括如權利要求1?9任一項所述的溫度測