本發明公開了一種通過故障隔離技術提高內存可靠性的方法,所述方法通過測試程序,在DRAM顆粒在出廠后,將使用過程中即將變壞的Cell地址信息動態地加入到“失效地址列表”中,讓內存控制器不去訪問這一塊的地址空間,從而延長內存系統的使用壽命。本發明方法可達到提高內存系統可靠性的目的,降低由于內存故障引起系統宕機的風險,減少因為內存原因引起的故障,提高產品競爭力,經濟效益明顯。
聲明:
“通過故障隔離技術提高內存可靠性的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)