本發明屬于測試技術領域,涉及一種絕緣柵雙極型晶體管性能退化試驗方法。該方法以絕緣柵雙極型晶體管為對象,利用程控脈沖發生器、程控電子開關、程控數字萬用表、功率電阻、工作電阻和直流電源,通過短路電流沖擊,得到不同短路電流值下的絕緣柵雙極型晶體管導通飽和電壓隨短路電流沖擊次數的偏移值,以此作為絕緣柵雙極型晶體管的性能退化數據。該方法可以在較短的時間里獲得準確的絕緣柵雙極型晶體管由于短路電流所造成的性能退化數據,利用此數據可以準確預測絕緣柵雙極型晶體管在使用過程中的失效時間,以便在絕緣柵雙極型晶體管失效前及時采取措施防止由于絕緣柵雙極型晶體管失效而產生的嚴重故障,進而減少經濟損失。
聲明:
“絕緣柵雙極型晶體管性能退化試驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)