本發明公開了保護裝置出口矩陣校驗儀和校驗方法,端口的數量與采樣電路的數量相同,且端口和采樣電路一一對應;端口通過與該端口對應的采樣電路連接于處理器;采樣電路包括三極管Q、電阻R1和電阻R2;電阻R1的一端連接于端口,且電阻R1的另一端連接于三極管Q的基極;電阻R2的一端連接于三極管Q的集電極,電阻R2的另一端連接于供電VCC;三極管Q的集電極連接于處理器,且三極管Q的發射極接地;電阻R1的阻值大于或等于10MΩ。本發明保護裝置出口矩陣校驗儀及校驗方法,實現了對同時對多路通道電壓信號的采集,并且在采集過程中,不會觸發設備絕緣巡檢儀,既提高了使用效率又減少了意外觸發帶來的檢測失效。
聲明:
“保護裝置出口矩陣校驗儀及校驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)