本發明公開了一種針對SRAM型FPGA的逐位翻轉故障注入方法,通過檢測電路設計配置存儲單元中的單粒子翻轉敏感位位置,得到動態翻轉截面和失效率,繪出可靠度變化曲線,從而可以對電路設計空間應用的可靠度進行評測。方法包括,步驟一:初始配置;步驟二:翻轉比特位;步驟三:判斷是否產生錯誤;步驟四:判斷是否完成測試;步驟五:獲取FPGA的動態翻轉截面和可靠度變化曲線。
聲明:
“針對SRAM型FPGA的逐位翻轉故障注入方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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