本發明公開了一種半導體器件和包括所述半導體器件的系統,其涉及在半導體器件的探針測試期間檢測有缺陷或失效部分的技術。所述半導體器件包括測試控制器,該測試控制器被配置為在測試信號的激活期間執行讀取標志信號的計數,以及控制數據掩蔽信號在讀取標志信號的第N激活時間被觸發。所述半導體器件還包括單元陣列,該單元陣列被配置為在寫入操作期間經由數據線接收和儲存測試控制器的輸出信號,以及在讀取操作期間將所儲存的數據輸出到測試設備。
聲明:
“半導體器件和包括其的系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)