本發明公開一種參考單元替換方法、裝置及存儲介質,其中,參考單元替換方法包括接收擦除操作指令;測量參考單元的輸出電流,當所述參考單元的輸出電流與所述參考單元的設計電流不同,對所述參考單元執行替換操作;根據所述擦除操作指令執行擦除操作。本發明實施例中,當接收到擦除操作指令,存儲芯片執行擦除操作之前,對參考單元的進行檢測,并對出現問題的參考單元進行替換,可以有效解決參考單元隨著存儲芯片的使用時間增長而逐漸失效的問題,提高存儲芯片的可靠性;另一方面,相對于讀寫操作來說,擦除操作花費的時間較長,因此選擇在擦除操作前進行參考單元檢測,可以避免檢測過程對存儲芯片的讀寫速度的影響。
聲明:
“參考單元替換方法、裝置及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)