本發明涉及一種基于徑向基網絡算法獲取集成電路成品率的方法,屬于集成電路技術領域,該方法包括:根據集成電路工藝廠商提供的工藝參數,采用徑向基網絡算法,建立一個替代電路仿真的替代模型,將工藝參數作為替代模型的自變量,電路性能指標作為替代模型的函數值;根據最小范數方法,獲取最易使集成電路失效的工藝浮動值;得到的替代模型和最易失效的工藝浮動值,進行統計采樣,獲取采樣點和電路性能指標;根據所述采樣點及其電路性能指標,通過統計學方法得到該集成電路的成品率。該方法可降低成品率獲取過程中的電路仿真次數,減少分析集成電路成品率所用的時間,縮短集成電路設計周期,加快集成電路生產,降低集成電路的成本,提高經濟價值。
聲明:
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