設置了在使擾動測試信號(TESTUBBS)和自刷新信號(/BBU)激活時使小電壓值檢測器(38)激活而且可使大電壓值檢測器(36)失效的切換電路(40)。因此,不僅在擾動測試方式時,而且在自刷新方式時,由基板電壓發生電路(34)發生與小電壓值檢測器(38)的檢測電壓值相等的低的基板電壓(VBB)。結果,能夠防止因增設小電壓值檢測器(38)而導致的面積的增大。
聲明:
“半導體存儲裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)