本發明涉及可靠性試驗技術領域,公開了一種光纖陀螺可靠度加速試驗方法。通過對所述光纖陀螺進行失效機理分析和可靠性摸底試驗來確定所述光纖陀螺的退化性能參數和敏感環境應力,并根據所述退化性能參數和所述敏感環境應力制定相應的試驗方案。然后對所述光纖陀螺進行加速退化試驗,對所得的試驗數據進行分析,建立相應的退化模型,從而推算出其失效時間,最后根據失效時間和壽命分布模型,對經過測試的光纖陀螺進行可靠性指標評估。通過本發明提出的光纖陀螺可靠度加速試驗方法對光纖陀螺進行測試,可以有效減少試驗的時間成本,同時也有效降低了試驗成本;并且,最大限度模擬了光纖陀螺的真實退化環境因素,從而實現產品MTBF的準確評估。
聲明:
“光纖陀螺可靠度加速試驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)