本發明的長壽命、高可靠電子產品可靠性評估方法包括以下步驟:尋找電子產品的最薄弱功能模塊;設計加速退化試驗;數據統計分析;以及確定可靠性模型;所述數據統計分析具體為:通過數據折算將步進加速退化數據轉化成恒定應力加速退化數據;利用恒定應力加速退化數據擬合得到性能退化軌跡;根據性能失效閾值和性能退化軌跡得到偽失效壽命,將每個應力水平所對應的偽失效壽命數據進行分布假設檢驗,以確定偽失效壽命數據服從的分布函數;確定加速模型。本發明的長壽命、高可靠電子產品可靠性評估方法解決了試驗樣本短缺,試驗時間有限的問題,有效提高了電子產品的試驗效率,同時縮短了電子產品的可靠性評估時間。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)